円形状欠陥磁粉模様／分散欠陥磁粉模様／磁気ペン跡
”非破壊試験”の中の、”磁粉探傷試験”に分類されている用語のうち、『円形状欠陥磁粉模様』、『分散欠陥磁粉模様』、『磁気ペン跡』のJIS規格における定義その他について。
主に圧延、鋳造又は鍛造された鋼及び鋼製品の試験に関する主な用語として、鉄鋼用語（試験）（JIS G 0202）において”非破壊試験”のうちの”磁粉探傷試験”に分類されている用語には、以下の、『円形状欠陥磁粉模様』、『分散欠陥磁粉模様』、『磁気ペン跡』などの用語が定義されています。
鉄鋼用語（試験）
⇒【非破壊試験 > 磁粉探傷試験】
分類： 鉄鋼用語（試験） > 非破壊試験 > 磁粉探傷試験
番号： 5322
用語： 円形状欠陥磁粉模様
定義：
欠陥磁粉模様において線状欠陥磁粉模様以外のもの。
対応英語（参考）：
circular indication
分類： 鉄鋼用語（試験） > 非破壊試験 > 磁粉探傷試験
番号： 5323
用語： 分散欠陥磁粉模様
定義：
欠陥磁粉模様が一定の領域に複数個存在するもの。
対応英語（参考）：
scattering indication
分類： 鉄鋼用語（試験） > 非破壊試験 > 磁粉探傷試験
番号： 5324
用語： 磁気ペン跡
定義：
残留法（※1）において、試験品が互いに接触した場合、又はほかの強磁性体に接触した場合に生じる漏えい磁束によって形成される不定形状の磁粉模様。
対応英語（参考）：
magnetic writing
（※1）
残留法とは、磁化電流（試験品に磁束を生じさせるために用いる電流）を断った後磁粉の適用を行う方法のことです。
